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薪资
公司未注明
地点
Fab 10N/X, Singapore
工作时间
您将定义并实施 NAND Flash 可靠性测试流程,以评估产品可靠性并防止可靠性逃逸。您将执行大批量统计分析,以评估 NAND DPM 和内在可靠性风险及趋势。您将推动电气故障分析和高级表征,以确定根本原因和解决方案空间。您将制定短期对策,如针对性应力和筛选,并通过控制措施鉴定产品,以实现一流的 DPM 和单元可靠性。您将与 Fab、NAND Technology、Design、Product Development、System Development 和 Quality/Reliability 团队紧密合作。
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